Sarana Penelitian

Pengujian


Transmission Electron Microscope (TEM) (S2/S3)

Pusat Penelitian Fisika

Telepon 021 7560570

Serpong

Rp 1.250.000/Sampel

Alat Transmission Electron Microscopy (TEM) FEI Tecnai G2 20 S-Twin bertegangan 200kV kelas akselerasi TEM dengan sub Angstrom beresolusi 0,24
nm ( titik ) dan 0,188 nm ( line), berbagai perbesaran 25x - 1050kx yang dilengkapi dengan fasilitas kamera CCD
dan EDS ( Energi Dispersif X - Ray Spektroscopy). Dengan spesifikasi tersebut, TEM FEI Tecnai G2 20 S-Twin mampu menganalisis material terutama untuk kegagalan / analisis cacat, penentuan fasa , komposisi elemen dan tujuan lain dengan pencitraan beresolusi nanometer. Satu fitur unik dari peralatan ini (tidak umum untuk TEM kelas 200kV) adalah mampu memberikan high resolution image (HRTEM) sampai pada resolusi kolom atomik, sehingga jarak antar atom dapat diketahui secara langsung. Software analisa gambar juga tersedia pada alat ini sehingga pengguna dapat memperoleh hasil analisa yang komprehensif. 


Minggu Senin Selasa Rabu Kamis Jumat Sabtu
01

02

03

04

05

06

07

08

09

10

11

12

13

14

15

16

17

18

19

20

21

22

1 Sampel
23

24

25

26

27

28

29

30

31